須郷秀武くんと鈴木学くんが IEEE EDS Japan Chapter Student Award を受賞しました!!

2017年2月15日に開催されたIEEE EDS Japan Chapter総会において,本専攻の須郷秀武くん(須川・黒田研H27年度修了,現 株式会社デンソー勤務)と鈴木学くん(須川・黒田研 M2)が,第15回 IEEE EDS Japan Chapter Student Award を受賞しました!!

この賞は,日本国内の大学,大学院に所属する若い学生研究者のなかで,電子デバイス技術への貢献が優れて大きいと認められる者に授与されるもので,IEEE  Electron Device Society主催の重要国際学会において,第一著者として口頭発表した学生研究者の中から,毎年数名の受賞者が選考されます.

電子デバイス分野の重要学会であるVLSI2016およびIEDM2016で発表した次の論文:

  • Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yuichiro Yamashita, Hirofumi Sumi, Tzu-Jui Wang, Po-Sheng Chou, Ming-Chieh Hsu and Shigetoshi Sugawa, “A Dead-time Free Global Shutter CMOS Image Sensor with in-pixel LOFIC and ADC using Pixel-wise Connections,” 2016 Symposium on VLSI Circuits (VLSI2016), pp.224-225, Honolulu, June 2016.
  • Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama and Shigetoshi Sugawa, “An Over 1Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with 480 Frame Storage Using Vertical Analog Memory Integration”, 2016 IEEE International Electron Device Meeting (IEDM2016), pp.212-215, San Francisco, Dec. 2016.

が評価され,今回の受賞に至りました.おめでとうございます!!